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高压瓷片电容CT81-5KV-Y5V-182M

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产品用途及特点:

用于高压旁路和耦合电路中,耐直流高压与较低的介质损耗等特点。

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产品参数 / Product Details

  • 【产品型号】CT81-5KV-Y5V-182M
  • 【所属分类】CT81高压瓷片电容
  • 【本体高度】8.5mm
  • 【电容量】1800pF
  • 【本体厚度】5mm
  • 【容量编号】182M
  • 【本体宽度】11.5mm
  • 【主要材料】Y5V
  • 【额定电压】5KVDC
  • 【引线间距】10mm
  • 【测试电压】1800VDC
  • 【引线长度】3-22mm
  • 【标准偏差】M(±20%)
  • 【引线直径】0.58mm
  • 【损耗角正切】tanδ≤0.0010 1KHz
  • 【绝缘电阻】IR≥15000MΩ IR≥6000S(MΩ/μF)
  • 【温度范围】-40℃~+110℃
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推荐阅读 / Product Details


电容器是电子电路的主要元件,在电路中有着许许多多的应用,比如在直流电源电路中做低频滤波,在抗干忧电路中做高次谐波滤波,在振荡电路中做谐振元件等等,但是电容器同时也是电路中发生故障最多的电器元器件之一。本文主要讲述关于陶瓷电容内外部失效因素,从各方面了解陶瓷电容

陶瓷电容器失效的原因分为内在因素和外部因素


内在因素为:


1)陶瓷介质内空洞:导致空洞产生的主要因素为陶瓷粉料内的有机或无机污染,烧结过程控制不当等。


2)主要原因与烧结过程中的冷却速度有关,裂纹和危害与空洞相仿。


3)分层:多层陶瓷电容器的烧结为多层材料堆叠共烧。烧结温度可以高达1000℃以上。层间结合力不强,烧结过程中内部污染物挥发,烧结工艺控制不当都可能导致分层的发生。


外部因素主要为:


1)温度冲击裂纹,主要由于器件在焊接特别是波峰焊时承受温度冲击所致,不当返修也是导致温度冲击裂纹的重要原因。

遇到失效问题的时候,可以从这几个方面寻找根源问题,确保陶瓷电容的安全使用。

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