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高压瓷片电容CC81-5KV-YL-560K

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产品用途及特点:

适用于调谐回路、需要补偿温度效应的电路中,电容量随温度改变呈线性变化等特点。

● 符合RoHS指令

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产品参数 / Product Details

  • 【产品型号】CC81-5KV-YL-560K
  • 【所属分类】CC81高压瓷片电容
  • 【本体高度】7.5mm
  • 【电容量】56pF
  • 【本体厚度】3.8mm
  • 【容量编号】560K
  • 【本体宽度】9.5mm
  • 【主要材料】YL
  • 【额定电压】5KVDC
  • 【引线间距】10mm
  • 【测试电压】1800VDC
  • 【引线长度】3-22mm
  • 【标准偏差】K(±10%)
  • 【引线直径】0.55mm
  • 【损耗角正切】tanδ≤0.0010 1KHz
  • 【绝缘电阻】IR≥15000MΩ IR≥6000S(MΩ/μF)
  • 【温度范围】-40℃~+110℃
如需了解其它参数请通过右侧电话或者微信 QQ咨询

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压敏电阻器是我们经常使用到的电子元器件之一,可以保护电路中的因电流过大而产生的问题。如果过电压在电路中频繁出现,也会导致压敏电阻器频繁动作以抑制过电压幅值和吸收释放浪涌能量,这样的频繁操作的后果必然就是导致压敏电阻器的性能下降,从而加快老化速度。老化之后压敏电阻器容易进入失效模式,常见压敏电阻器的失效模式有几种呢,本文总结了一些关于压敏电阻器常见失效情况。

在压敏电阻器的应用过程中,当其出现性能劣化时,常见的劣化模式有两种,一种是开路模式,另外一种是短路模式。开路模式主要发生在MOV流过远远超出自身承受的浪涌电流时,通常表现为氧化锌压敏电阻本体炸裂,但这种模式不会引起燃烧现象。短路模式大体上可分为老化失效和暂态过电压破坏两种类型。


首先我们来看氧化锌压敏电阻的老化失效问题。这一问题主要指的是电阻体的低阻线性逐步加剧,此时漏电流将会恶性增加且集中注入薄弱点,导致薄弱点材料融化,形成一千欧左右的短路孔后,电源继续推动一个较大的电流灌入短路点,形成高热而起火。研究结果表明,若压敏电阻存在着制造缺陷,易发生早期失效,强度不大的电冲击的多次作用也会加速老化过程,使老化失效提早出现。而压敏电阻器出现暂态过电压破坏则是一个短时间内造成器件损坏的情况,所谓的暂态过电压破坏,指的是短时间内出现较强的暂态过电压使电阻体穿孔,导致更大的电流而高热起火,整个过程在较短时间内发生。


按照压敏电阻器失效后的表现情况来看,可以分成三种常见的失效状态,即劣化、炸裂和穿孔。当表现为劣化状态时,实物表现为使用万用表测试压敏电阻时出现漏电流增大情况,压敏电压显着下降,直至为零。当表现为炸裂情况时,则压敏电阻器在抑制过电压时将会发生陶瓷炸裂现象,非常明显。当氧化锌压敏电阻器表现为穿孔情况时,则电阻器的陶瓷外层将会瞬间发生电击穿,出现穿孔状态。

压敏电阻器出现失效模式之后,工程要及时的更换掉,避免影响电路中的其他电子元器件。电容器的老化是很常见的一个问题,只要我们定期进行检查,以上所说的问题我们是可以绕开的。


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